| 3-311-840 SWT-8000Ⅱ 3-311-841 SWT-8200Ⅱ ● 측정 대상물에 맞춰, 전자식 프로브 및 와전류식 프로브를 접속 할 수 있는 등 본체와 프로브를 자유롭게 조합 할 수 있습니다. ● 슬림한 디자인 설계이므로, 소지해서하는 작업의 피로를 줄일 수 있습니다. 형식 | SWT-8000Ⅱ | SWT-8200Ⅱ | 표시방식 | 그래픽 LCD (데이터, 메시지) | 검량선교정 | 2점 교정식(제로점, 표준조정점) | 검량선메모리 | 철 · 비 철용 각 1개 | 10개 | 측정값메모리 | - | 10,000점 | 데이터전송 | - | USB | 데이터통계기능 | - | 본체내장 | 부가기능 | 키 입력 잠금, 오토파워오프(약3분), 측정모드 전환 (홀드/연속) 표시 분해능 전환, 검량선, 교정값 삭제, 상하한값 설정(8200Ⅱ만) | 전원 | 단3전지×2(부속) 또는 전용AC어댑터(SWT-8200Ⅱ만) | 크기 | 72×30×156mm, 약200g | 부속 | 수납케이스 | 수납케이스,AC어댑터,USB케이블(2.0m), USB드라이버(CD) |
※ 프로브는 포함되어 있지 않습니다. 아래에서 선택해주세요. [옵션] Coating Thickness Meter SWT용 프로브 코드 | 3-310-845 | 3-310-846 | 3-310-847 | 형식 | Fe-2.5 | NFe-0.6 | NFe-2.0 | 측정방식 | 자기유도식 | 와전류식 | 측정범위 | 0~2.50mm | 0~0.6mm | 0~2.00mm | 표시분해능 | 0~400μm: 0.1μm, 400~500μm: 0.5μm | 500~999μm: 1μm 1.00~2.50μm: 0.01㎜ | 500~600μm: 1μm | 50~999μm: 1μm 1.00~2.00μm: 0.01mm | 측정정밀도 | 0~100μm: ±1μm 또는 지시값의 ±2%이내, 기타: ±2%이내 | 프로브 | 1점정압접촉식, V컷 포함 | 부속 | 표준판자, 테스트용제로판(철용) | 표준판자, 테스트용 제로판(비 철용) |
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